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手持式光谱仪X射线荧光分析仪技术可用于测量涂层的厚度,与其他合金分析仪技术相比,这种光谱仪技术在精确度和便携性方面占有优势。在较大的表面区域上进行涂层分析,通常需要使用台式光谱仪器通过某些损坏性的操作程序来完成。手持式合金分析仪技术克服了这个局限性,合金分析仪为用户提供了一种无损涂层厚度检测能力。
用户通过合金分析仪用户界面中内置的校准功能,可以非常方便地使用一种认证标准样品,对最多3个涂层的材料进行分析,合金分析仪并准确地测量这些涂层的厚度。使用手持式光谱仪对涂层的厚度进行测量,不需要考虑基底材料,而且可使用户自由地分析含有从钛(Ti)到钚(Pu)元素的任何沉积性涂层。由于要分析的元素范围很大,因此分析现场附近的实验室可以借助手持式光谱仪传送的准确结果,判断所检测的材料是否出现了腐蚀、磨损和涂层粘附等问题。
涂层分析的物理基础是朗伯比尔吸收定律,根据这个定律,X射线在刚刚进入样品的第一个涂层时,强度最高,但是随着它在涂层中的传播,强度会逐渐减小。在进入第二个涂层时, X射线的强度已经降低,因为其部分强度已经被前一个涂层所吸收。随着各个涂层对X射线呈指数的吸收,进入到样品中的X射线的强度将继续减小,所吸收的量取决于样品的物理特性。
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